Չինաստան Այն արագ փորձարկիչ է, որը կիրառվում է 1-լարային PCM-ի հիմնական և պաշտպանական բնութագրերի թեստերի համար 1S8&2S L-ion մարտկոցների փաթեթներում:Կիրառելի IC-ն ներառում է TI Corporation-ի կառավարման շարքերը (օրինակ՝ BQ27742, BQ277410 BQ28z610, BQ 27541, BQ 27545 BQ2753X):արտադրող և մատակարար |Միգամածություն

Դա արագ փորձարկիչ է, որը կիրառվում է 1-լարային PCM-ի հիմնական և պաշտպանական բնութագրերի թեստերի համար 1S8&2S L-ion մարտկոցների փաթեթներում:Կիրառելի IC-ն ներառում է TI Corporation-ի կառավարման շարքերը (օրինակ՝ BQ27742, BQ277410 BQ28z610, BQ 27541, BQ 27545 BQ2753X):

Այն արագ փորձարկիչ է, որը կիրառվում է 1-լարային PCM-ի հիմնական և պաշտպանական բնութագրերի թեստերի համար

1S8&2S L-ion մարտկոցների փաթեթներում:Կիրառելի IC-ն ներառում է TI-ի կառավարման շարքը

կորպորացիան (օրինակ՝ BQ27742, BQ277410 BQ28z610, BQ 27541, BQ 27545 BQ2753X):

ԿԱՊ ՀԻՄԱ

Համատեղելի է բազմաթիվ տեսակի Gas Gauge IC-ի հետ, բարձր

ճշգրտություն և արագ փորձարկման արագություն

Ալիքներն աշխատում են ինքնուրույն

խնայելով թեստի ժամանակն ու աշխատուժը

Ալիքների մոդուլային ձևավորում՝ հեշտ սպասարկման և

փոխարինում;Հարուստ տվյալների հաշվետվության գործառույթ

Բարձր ճշգրտություն

Մոդել	BAT-NEDQ-04-V009
Պարամետր	Շրջանակ	Ճշգրտություն
Անալոգային մարտկոցի ելքային լարում	50-2000 մՎ	±(0.01% R.D+0.019FS)
Անալոգային մարտկոցի ելքային լարում	2000-5000 մՎ	±(0,019%R.D+0,01%FS)
Անալոգային մարտկոցի ելքային հոսանք	0-3000 մԱ	±(0.01% R.D+0.02%FS)
Լիցքավորիչի ելքային/չափված լարում	20-5000 մՎ	±(0.01% R.D+0.05%FS)
Լիցքավորիչի ելքային/չափված լարում	5000-10000 մՎ	±(0.1%R.D+5mV)
Լիցքավորիչի ելք/չափված հոսանք	20-3000 մԱ	±(0,1%R.D+1mA)
Անալոգային մարտկոցի ելքային լարում Չափում	50-1000 մՎ	±(0.01% R.D+0.1%FS)
Անալոգային մարտկոցի ելքային լարում Չափում	1000-5000 մՎ	±(0.01% R.D+0.01%FS)
Անալոգային մարտկոցի ընթացիկ չափում (Ընթացիկ սպառումը)	(mAlevel）0~1000mA	±0.01% R.D+0.02%FS
	(mAlevel）1000~3000A	±0.01% R.D+0.02%FS
	(uA մակարդակ) 1~2000uA	±0.01% R.D+1uA
	(nA մակարդակ) 20~1000nA	±0.01%R.D+20nA
PACK Ընթացիկ չափում	200-10000 մՎ	±(0.02% R.D+0.01%FS)